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可靠性知识:电子元器件失效率试验的方法

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可靠性知识:电子元器件失效率试验的方法

发布日期:2018-12-10 作者: 点击:

这里给大家分享可靠性知识的另一个知识点,电子元器件的失效率试验方法都有哪些。


失效率试验的方法,对电子元器件失效率所进行的可靠性试验,根据不同的试验目的可分为两种方法。


失效率试验的方法


1、方法A——可靠性验证试验


如果主要目的是为了确定是否符合某种规定的失效率时,应采用方法A。此时,生产厂的义务是在所要求的置信度下验证产品是否符合所要求的失效率等级。由于生产厂同意提供某规定的失效率等级,所以,试验的等级是按产品被鉴定的失效率来确定的。


2、方法B——可靠性测定试验


如果主要目的是为了对产品的可靠性进行评价昌,应采用方法B。此时,生产厂的义务是按照规定进行试验,并就试验结果提出报告。试验所确定的失效率与同类试验结果相比较。试验等级与所报告的失效率无关。


这两种方法既适用于本质上是连续生产的元器件的试验,也适用于单批产品的试验。


更多可靠性知识可关注优瑞特检测进行了解,需要进行电子元器件失效率试验的客户可在线咨询详情。

本文网址:http://www.douchengcc.com/news/609.html

关键词:失效率试验,知识:电子元器件,可靠性知识

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